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Ressources pédagogiques -> Mot(s)-clé
électron secondaire
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Tri :   Date de référencement Editeur Auteur Titre

Dans l'oeil du microscope

 [Ressource pédagogique]


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  • Date de publication : 
    • 20070701  | 
  • Auteur(s) : 
    • Borensztajn Stephan  | 
  • Editeur(s) : 
    • SERRI Samia  | 
  • Origine de la fiche : 
    • Canal-U - OAI Archive
  • La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie basée sur le principe des des intéractions électrons-matière. Un faisceau d'éléctrons balaie la surface de l'échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certainesparticules. Différents détecteurs permettent d'analyser ces particules et de reconstruire une image de la...


  • Référencé le  : 
    • 03-12-2010
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