Caractérisation structurale des contacts ohmiques réalisés à partir d'encres métalliques sur cellules photovoltaïques en silicium multicristallin

Auteur(s) : THUILLIER, Bruno Contributeurs : LAUGIER, André Éditeur(s) : Institut National des Sciences Appliquées de Lyon Date de publication : 16-11-2004

Accès à la ressource :  http://docinsa.insa-lyon.fr/these/pont.php?id=thui... Description : Ce travail a pour but l'étude des contacts ohmiques réalisés, à partir d'encres métalliques, par sérigraphie sur les cellules solaires en silicium multicristallin. Cette étude a porté sur les contacts dans leur volume mais également sur l'interface qu'ils créent avec le silicium. Le cœur de l'étude est une caractérisation structurale des contacts avants et arrières par microscopie électrique en transmission entre chaque étape de leur processus industriel d'élaboration. Cette première partie a permis de mettre en évidence une incompatibilité entre la pâte de la face avant et le traitement appliqué. Un second travail a consisté en l'étude de la faisabilité d'une reprise de soudure en surface des contacts par dépôt électroless. Les résultats énoncés ont été obtenus avec des solutions de cuivre et de nickel. En dernier lieu, nous avons étudié la formation d'un champ arrière en fonction de la composition de la pâte déposée et du traitement thermique appliqué. L'objectif est de diminuer les recombinaisons des porteurs minoritaires dans le cas de la réduction d'épaisseur du semi-conducteur. Mots-clés : Matériaux Langue : Français

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