Métrologie à petites échelles

Auteur(s) : CRETIN BERNARD    01-01-2003  Éditeur(s) : CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique;     Description : Microscopie à champ procheGénériqueBernard Cretin LPMO-CNRS Mots-clés libres : effet d'échelle, étalon, grandeur physique, Mesure, métrologie, microscopie à sonde locale, microscopie en champ proche, microscopie optique, nanométrologie Classification générale : Généralités - Mathématiques et Sciences de la nature et de la matière Physique, Mécanique, Optique, Electromagnetisme, Métrologie Accès à la ressource : http://www.canal-u.tv/canalu/producteurs/science_e... rtmpt://mediaFM01.cines.fr/3517/cerimes/science/19... Conditions d'utilisation : Droits réservés à l'éditeur et aux auteurs

DONNEES PEDAGOGIQUES Type pédagogique : cours / présentation Niveau : enseignement supérieur, master DONNEES TECHNIQUES Format : video/x-flv Taille : 74.64 Mo Durée d'exécution : 29 minutes 18 secondes

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